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HAST高度加速老化試驗箱

艾思荔HAST高度加速老化試驗箱測試半導體封裝之濕氣能力,待測產品被置于嚴苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會沿者膠體或膠體與導線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動金屬化區域腐蝕造成之斷路,或封裝體引腳間因污染造成短路等。加速老化壽命試驗的目的是提高環境應力(如:溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷等),加快試驗過程,縮短產品或系統的壽命試驗時間。

HAST高度加速老化試驗箱

HAST高度加速老化試驗箱技術優勢:

1、采用全自動補充水位之功能,試驗不中斷、

2、試驗過程的溫度、濕度、壓力,是讀取相關傳感器的讀值來顯示的,而不是通過溫濕度的飽和蒸汽

壓表計算出來的,能夠掌握實際的試驗過程。

3、干燥設計,試驗終止采用電熱干燥設計確保測試區(待測品)的干燥,確保穩定性。

4、準確的壓力/溫度對照顯示,完全符合溫濕度壓力對照表要求。

HAST高度加速老化試驗箱參數

HAST高度加速老化試驗箱性能:

1、測試環境條件4、2、測試方法環境溫度為+25℃、相對濕度≤85%、

2、溫度范圍105℃→+132℃、(控制點)

3、溫度波動度±0、5℃、

4、溫度偏差±2、0℃、

5、濕度范圍75%~100%R、H、(控制點)

6、濕度波動度±2、5%R、H、

7、濕度均勻度±5、0%、

8、壓力范圍0、5~2㎏/㎝2(0、05~0、196MPa)(控制點)

9、升溫時間常溫→+132℃35min、

10、升壓時間常壓→+2㎏/㎝240min

HAST高度加速老化試驗箱圖片

HAST高度加速老化試驗箱試樣限制本試驗設備禁止:

    易燃、易爆、易揮發性物質試樣的試驗或儲存。腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。強電磁發射源試樣的試驗或儲存。

HAST高度加速老化試驗箱用途:

    HAST高度加速老化試驗箱 壹叁伍 叁捌肆陸 玖零柒陸 適用于國防、航天、汽車部件、電子零配件、塑膠、磁鐵行業、制藥、線路板,多層線路板、IC、LCD、磁鐵、燈飾、照明制品等產品之密封性能的檢測,相關之產品作加速壽命試驗,使用于在產品的設計階段,用于快速暴露產品的缺陷和薄弱環節。測試其制品的耐厭性,氣密性。

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